Products : Test Systems for LED
  |
LED epi Wafer EL Tester
* LED 에피웨이퍼에 직접 probing을 통하여 전기적 특성과 광학적 특성을 계측할 수 있는 EL 테스터 * Generation of virtual LED on Epi-wafer Direct Probing on Epi-wafer surface * Non-destructive and Non-contamination * Nearly ohmic contact prober on the Surface & Edge * Optical Power, Chromaticity x, y, FWHM, Peak, Dominant, Center 파장, L-I-V sweep, Forward / Reverse voltage & current, etc. |
 |
실시간 다채널 LED Aging & 열저항/Tj 측정시스템 * LED샘플의 상대적 광출력 열화값 및 전압변동측정 (in situ측정) * 복수의 샘플을 에이징 도중 in-situ로 정션온도와 열저항 측정 * dynamic mode(transient mode)측정방식으로 Tj 측정 * 정확한 k-factor를 산출할 수 있는 알고리즘의 적용 * 에이징테스트 결과와 정션온도와의 상관관계 해석이 가능 * V-I Sweep 및 저전류 테스트에 의한 정전기 열화특의 예측 |
 |
In situ 다채널 LED 에이징 시스템 * High Power LED 패키지의 가속 수명 시험 장치로서 최대 100 ℃ 까지의 온도와 최대 2000mA 까지의 전류 조건하에 in situ로 측정 * 1개의 Tray에 12ch의 LED fixture가 복수로 구성되며 12ch 단위로 증설이 가능하고 fixture별로 온도와 전류 조건을 독립적으로 제어함 * 고정밀 Sourcemeter를 이용하여 Aging Test 진행 중 DC Test 를 통한 LED의 DC 특성변화 관찰이 가능하며 V-I sweep 측정도 가능(Option) * CW 또는 Pulse 전류 구동을 선택적으로 사용 가능하여 고출력 LED의 대전류 인가 에이징 테스트가 가능 * 광출력의 안정적인 측정을 위해 Detector부의 온도제어 병행 * Fixture 변경에 따른 다양한 LED패키지 측정이 가능 |
  |
LM80 시스템 * 국제규격 LM-80에 준하는 시스템 IES Approval Method for Lumen Maintenance Testing of LED Light Sources * 구성 : chamber방식 또는 Thermal plate방식 * Temperature 1) Case temperature : 55℃, 85℃, 사용자 온도 2) 온도제어정도 : <-2℃ 3) Ambient temp. : case temperature의 -5℃ 이내 * Electrical Condition 1) Ripple voltage : < 2% of DC output voltage 2) Voltage : Total harmonic distortion < 3% 3) LED 구동 : 개별제어방식(2A, 10V/ch) 직렬제어방식(2A, 100~300V/ch) 선택가능 * LM79 규격에 의한 적분구 테스트시스템도 Option으로 제공가능 |
  |
LED Module Tester * Thermal Stage위에 복수개의 BLU 용 LED Bar 또는 LED 모듈을 장착 후 임의 설정 온도에서 제반 전기광학 특성을 자동으로 계측하는 장비 * 멀티의 Sourcemeter 및 Switching unit을 통해 복수의 LED를 개별적 또는 모듈 단위로 전기 및 광특성 측정이 가능 * 광출력에 따라 자동 ND Filter 교체와 자동 Integration Time이 가능한 Spectrometer 채용으로 안정적이고 고속의 측정이 가능 * 고속, 고정밀 Linear Motor 채용으로 정확한 이송으로 측정위치의 신뢰성 보증 * Image processing에 의한 자동얼라인 기능으로 데이터 신뢰도를 향상 |
 
 |
LED Chamber Aging & Auto Tester * 양산에 적합한 LED 에이징 시스템 * 번인측정한 보드를 그대로 측정시스템에서 측정이 가능 * 측정수량 : 사양에 따라 변경가능 * 전류 : 0 ~ 2000mA/ch * 전압 : 0 ~ 5V/ch * 챔버온도범위 : 50 ~ 120℃ * 측정항목 1) 전류 2) 전압 3) 챔버온도 4) 번인시간 |