Products : Test Systems for LD
  
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TOSA/BOSA LD I-V-L Tester * 측정패키지 : TOSA/BOSA LD Φ5.6 TO CAN * 측정수량 : 30pcs/fixture * Current : 0 ~ 1000mA * Voltage : 0 ~ 9V * 온도제어범위 : 25℃ ~ 85℃ * 측정항목 1) I-V-L Sweep 특성 2) Spectrum 특성 |
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LD Bar Tester * Sample: LD Bar, LD Chip, TO CAN PKG, etc. * 측정항목 : LIV Sweep, FFP, Spectrum * 장파장(1000~1600nm) or 단파장(400~1000nm) * 다양한 온도환경하에서 LD의 특성값 변화관찰 가능 * CW + 펄스구동방식 : 최소펄스폭 1usec * 구동전류/전압 range : 1A / 5V * Vision Processing에 의한 위치Align |
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LD TO CAN Burn-In Tester * 측정패키지 : 4핀, 5핀, 7핀, 8핀 TO LD 패키지 * 측정수량 : 챔버당 500-샘플 * 번인보드 : 100-샘플 로딩 * 전류 : 0 ~ 300mA * 전압 : 0 ~ 5V * mPD : 0 ~ 10mA * 챔버온도범위 : 20 ~ 120℃ * 측정항목 1) 전류 2) 전압 3) mPD current 4) 챔버온도 5) 번인시간
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LD TO CAN 특성평가 Tester * 측정보드 : 100개 샘플 로딩 * 특징 (1) TO 샘플의 위치를 화상 처리를 통한 자동 위치 보정으로 파장측정이 가능 (2) 번인보드 그대로 로딩하여 자동측정 가능 (샘플의 로딩/언로딩이 불필요) * 전류 : 0 ~ 1000mA * 전압 : 0 ~ 9V * mPD : 0 ~ 10mA * 측정온도 : 실온 or In-TEC 제어(Option) * 측정항목 1) L-I-V sweep test 2) Spectrum 3) FFP측정 (option) |
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CoC Type LD Burn-in Tester * 측정패키지 : CoC type * 측정수량 : 챔버당 100-샘플 (사양에 따라 변경가능) * 번인Fixture : 10-샘플 로딩 (사양에 따라 변경가능) * 전류 : 0 ~ 500mA * 전압 : 0 ~ 10V * 챔버온도범위 : 50 ~ 120℃ * 측정항목 1) 전류 2) 전압 3) 챔버온도 4) 번인시간 |
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CoC Type LD 특성평가 Tester * 측정Fixture : CoC 번인Fixture 그대로 측정가능 * 특징 1) 번인Fixture 그대로 로딩하여 자동측정이 가능 (샘플의 로딩/언로딩이 불필요) 2) LIV Sweep 및 파장자동 측정 3) 파장측정시 X-Y-Z방향의 Peak search 후 Fiber align 알고리즘 적용 * 전류 : 0 ~ 1000mA * 전압 : 0 ~ 9V * 측정온도 : 25 ~ 100℃ * 측정항목 1) L-I-V sweep test 2) Spectrum 3) FFP측정 |
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VCSEL Burn-in Tester * 측정패키지 : VCSEL TO Package * 측정수량 : 챔버당 500-샘플 (사양에 따라 변경가능) * 번인Fixture : 100-샘플 로딩 (사양에 따라 변경가능) * 전류 : 0 ~ 250mA/ch * 전류분해능 : 0.01mA * 전압 : 0 ~ 10V/ch * 챔버온도범위 : 50 ~ 120℃ * 측정항목 1) 전류 2) 전압 3) 챔버온도 4) 번인시간 |
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VCSEL 온도특성 Tester * 측정Fixture : VCSEL번인 Fixture를 그대로 측정 가능 * 특징 1) 번인Fixture 그대로 로딩하여 자동측정이 가능 (샘플의 로딩/언로딩이 불필요) 2) LIV Sweep 및 파장자동 측정 3) VCSEL칩의 발광점을 화상처리하여 자동 Aign 하여 측정 * 전류 : 0 ~ 500mA * 전압 : 0 ~ 9V * 측정온도 : 25 ~ 100℃ * 측정항목 1) L-I-V sweep test 2) Spectrum 3) FFP측정 (option) |
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High Power VCSEL Burn-in Tester * 측정패키지 : High Power VCSEL Metal PCB * 측정수량 : 16ch * 전류 : 0 ~ 12A/ch * 전압 : 0 ~ 50V/ch * CW and Pulse Operation Mode * 측정방법 : 적분구를 이용한 광출력과 파장을 측정 * 번인온도 제어방식 : TEC * 온도범위 : 50℃ ~ 100℃ * 측정항목 1) 전류 2) 전압 3) 광출력 4) TEC온도 5) 번인시간 |
 
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Butterfly LD Burn-In Tester * PKG : 14pin Butterfly, TO220 PKG, etc. * Burn-in Temperature : 25℃ ~85℃ * PKG내부의 in-TEC온도제어 포함 * Burn-in Test도중 LIV sweep특성 계측 * Test sample : 36ch/rack * Current / Voltage : 0~2A / 0 ~ 5V |
  
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초고출력 LD 특성평가 시스템 * PKG : CS-mount, C-mount , micro-channel * LD 패키지용도 : 군사용, 의료용, 가공용 등 * 측정항목 : LIV Sweep, FFP, NFP, Spectrum * 다양한 온도환경하에서 LD의 특성값 변화관찰 가능 * 번인테스트 기능포함 : 신뢰성평가가 가능 * 구동전류 : CW + Pulse (150A, 20V) * Optical Power : 0 ~ 3000W (thermopile sensor) |